描述:EC-770S涂層測厚儀,膜厚儀,厚度儀,厚度計。EC涂層測厚儀本儀器能同時(shí)測量磁性基材表面(如鋼、鐵等)的非磁性涂鍍層(如油漆、陶瓷、鉻等),以及非磁性金屬基材表面的非導電涂鍍層(如油漆等)。本儀表內置高精密雙探頭,利用電磁感應和渦流效應,全自動(dòng)探測基材屬性,計算涂鍍層厚度,并通過(guò)液晶快速顯示結果。
EC-770S涂層測厚儀本儀器能同時(shí)測量磁性基材表面(如鋼、鐵等)的非磁性涂鍍層(如油漆、陶瓷、鉻等),以及非磁性金屬基材表面的非導電涂鍍層(如油漆等)。本儀表內置高精密雙探頭,利用電磁感應和渦流效應,全自動(dòng)探測基材屬性,計算涂鍍層厚度,并通過(guò)液晶快速顯示結果。
【主要功能】
兩種測量模式,單次和連續;
可存儲最多五組數據;
可靈活零校準和多點(diǎn)校準(最多四點(diǎn))。各組有單獨的零校準和多點(diǎn)校準,組與組之間不影響;
用戶(hù)可隨時(shí)查看當前工作組已測得的數據,并刪除所選數據或整組數據;
實(shí)時(shí)顯示或查看當前工作組統計值:平均值,最小值,最大值,標準方差;
三種探頭模式: 自動(dòng)、磁感應和渦流;
可為各組單獨設置高低限報警值,超*屏幕指示報警,支持紅色背光報警;
可開(kāi)啟或關(guān)閉自動(dòng)關(guān)機功能;
USB接口可傳輸數據到計算機;
單位可在um、mm、mils之間切換;
低電和錯誤提示;
EC-770S涂層測厚儀【應用場(chǎng)景】
本儀器能無(wú)損、快速、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測量。它廣泛應用在電鍍層、表面工藝、質(zhì)控等檢測領(lǐng)域。
【技術(shù)指標與型號對比】
型號 | EC-770 | EC-770S | EC-770E(外置探頭) | EC-770X(內外置探頭可選) | EC-500X(內外置探頭可選) |
探頭通道 | 鐵磁性F探頭 非鐵磁性N探頭 | 鐵磁性F探頭 非鐵磁性N探頭 | 鐵磁性F探頭 非鐵磁性N探頭 | 鐵磁性F探頭 非鐵磁性N探頭 | 鐵磁性F探頭 非鐵磁性N探頭 |
原理 | 磁感應 渦流效應 | 磁感應 渦流效應 | 磁感應 渦流效應 | 磁感應 渦流效應 | 磁感應 渦流效應 |
測量范圍 | 0~2000um 0~2000um | 0~2000um 0~2000um | 0~2000um 0~2000um | 可選內置探頭: F5K N3K F3K N3K F2.5K N2.5K F5K F3K F2.5K N3K N2.5K
可選外置探頭: F5K N3K F3K N3K F2.5K N2.5K F5K F3K F2.5K N3K N2.5K | 可選內置探頭: F0.5K N0.5K F0.5K F0.5K
可選外置探頭: F0.5K N0.5K F0.5K F0.5K |
測量精度 | ±(2.5%+1um) ±(2.5%+1um) | ±(2%+1um) ±(2%+1um) | ±(2.5%+1um) ±(2.5%+1um) | ±(2%+1um) | ±(1%+1um) |
分辨率 | 0.1um(<100um) 1um(其他) 0.1um(<100um) 1um(其他) | 0.1um(<100um) 1um(其他) 0.1um(<100um) 1um(其他) | 0.1um(<100um) 1um(其他) 0.1um(<100um) 1um(其他) | 0.1um(<100um) 1um(其他) | 0.1um(<100um) 1um(其他) |
可存儲數據個(gè)數 | 320 | 2000 | 320 | 2000 | 2000 |
數據接口:USB |